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岩波講座 マイクロクエレクトロニクス(4) VLSIの設計2 論理とテスト
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商品詳細
| 内容紹介 | |
|---|---|
| 販売会社／発売会社 | 岩波書店 |
| 発売年月日 | 1987/10/01 |
| JAN | 9784000101844 |
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岩波講座 マイクロクエレクトロニクス(4)
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商品レビュー
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Boole代数、論理設計の基礎から、記述言語、故障検査系列生成、検査容易設計まで、抽象的なところから、具体的なところまで話しが展開されている。 短絡が生じた場合に、AND素子と等価とみなせるか、OR素子と等価と見なせる故障が多いとのことである。またPLAではコンタクト故障。 メモリではデコーダ故障とメモリセルアレイ故障とがあり、後者にはパターン依存故障（pattern sensitive fault:PSF）とセルの縮退故障（０たは１になったまま）とがある。 パターン依存故障には、動的と静的がある。 検査容易設計まであり、万能検査系列（univeersal test sequence)について説明している。
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