岩波講座 マイクロクエレクトロニクス(4) VLSIの設計2 論理とテスト

元岡達(著者)

• 販売会社／発売会社: 岩波書店
• 発売年月日: 1987/10/01
• JAN: 9784000101844

商品レビュー

2011/06/25

Boole代数、論理設計の基礎から、記述言語、故障検査系列生成、検査容易設計まで、抽象的なところから、具体的なところまで話しが展開されている。
短絡が生じた場合に、AND素子と等価とみなせるか、OR素子と等価と見なせる故障が多いとのことである。またPLAではコンタクト故障。
メモリではデコーダ故障とメモリセルアレイ故障とがあり、後者にはパターン依存故障（pattern sensitive fault:PSF）とセルの縮退故障（０たは１になったまま）とがある。
パターン依存故障には、動的と静的がある。
検査容易設計まであり、万能検査系列（univeersal test sequence)について説明している。