1,800円以上の注文で送料無料

表面分析:SIMS 二次イオン質量分析法の基礎と応用
  • 中古
  • 書籍
  • 書籍

表面分析:SIMS 二次イオン質量分析法の基礎と応用

デビッドブリッグス(編者), マーティン・P.シーア(編者), 志水隆一(訳者), 二瓶好正(訳者)

追加する に追加する

表面分析:SIMS 二次イオン質量分析法の基礎と応用

定価 ¥9,350

4,510 定価より4,840円(51%)おトク

獲得ポイント41P

在庫なし

発送時期 1~5日以内に発送

商品詳細

内容紹介
販売会社/発売会社 アグネ承風社/
発売年月日 2003/07/10
JAN 9784900508101

表面分析:SIMS

¥4,510

商品レビュー

0

0件のお客様レビュー

レビューを投稿

関連商品

同じジャンルのおすすめ商品

最近チェックした商品