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物質からの回折と結像 透過電子顕微鏡法の基礎

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商品詳細
内容紹介 | |
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販売会社/発売会社 | 共立出版 |
発売年月日 | 2003/12/25 |
JAN | 9784320034266 |
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物質からの回折と結像
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商品レビュー
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2件のお客様レビュー
透過電子顕微鏡(TEM)の原理について、基礎から解説されている教科書です。 電子顕微鏡を扱う研究室の人には参考になると思われます。 工4号館図書室内には、他にも「結晶電子顕微鏡学」(使い方中心)、「Transmission electron microscopy」、「ナノ材料解析...
透過電子顕微鏡(TEM)の原理について、基礎から解説されている教科書です。 電子顕微鏡を扱う研究室の人には参考になると思われます。 工4号館図書室内には、他にも「結晶電子顕微鏡学」(使い方中心)、「Transmission electron microscopy」、「ナノ材料解析の実際」(様々な分析手法の概論)などの、様々な電子顕微鏡関係の本があります。それぞれ特色が違うので、興味のある人は読み比べてみるといいでしょう。(マテリアル工学科) 配架場所:工4号館図書室,工2号館図書室,工6号館図書室 請求記号:e:K:18.00 ,549.97:Ko75 ,46:K:29 ◆東京大学附属図書館の所蔵情報はこちら https://opac.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/opac/opac_details/?reqCode=fromlist&lang=0&amode=11&bibid=2001811937&opkey=B151018707307436&start=1&totalnum=1&listnum=0&place=&list_disp=20&list_sort=6&cmode=0&chk_st=0&check=0 ◆参考文献 「結晶電子顕微鏡学 : 材料研究者のための」(材料学シリーズ / 堂山昌男, 小川恵一, 北田正弘監修). 坂公恭著. 内田老鶴圃, 1997.11. 配架場所:工4号館図書室 請求記号: 12:D:05.50 「Transmission electron microscopy : a textbook for materials science- 2nd ed.」 David B. Williams, C. Barry Carter . Springer, c2009 配架場所:工4号館図書室 請求記号: 12:W:07.00 「ナノ材料解析の実際」 米澤徹, 朝倉清高, 幾原雄一編著. 講談社, 2016.6. 配架場所:工4号館図書室 請求記号: 12:Y:07.00
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透過(および走査)型電子顕微鏡や透過電子回折について、基礎的な理論から懇切丁寧に説明している。 基礎理論から応用まであらゆることが一から丁寧に解説してあるので、非常に分かりやすく勉強になった。
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