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半導体材料・デバイスの評価 パラメータ測定と解析評価の実際
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商品詳細
| 内容紹介 | |
|---|---|
| 販売会社／発売会社 | シーエムシー出版 |
| 発売年月日 | 2012/05/01 |
| JAN | 9784781304793 |
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半導体材料・デバイスの評価
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商品レビュー
5
1件のお客様レビュー
半導体評価手法に関する本書は、実用性を重視した構成が特徴で、測定したいパラメータごとに章が分かれているため、非常に使いやすいと評判です。幅広い手法が網羅されており、読者は必要な情報を迅速に見つけることができます。ただし、複数の章に同じ手法が記載されることがあるため、少し混乱を招く可能性もあります。理論部分は必要な分だけ解説されているため、半導体物理の基礎知識があれば、より理解が深まります。全体として、21世紀初頭の半導体評価の現状を俯瞰するための優れた資料となっており、専門家や学生にとって貴重なリソースとなるでしょう。
※この内容はAIが作成したものであり、ブックオフ公式オンラインストアの見解や意図を示すものではありません。
半導体評価手法の解説本としては、見たことのある書籍の中で最も網羅的で使いやすい。実用一辺倒の構成で、測定したいパラメータのタイプ別に章立てされている。デメリットとしては、ひとつの手法が複数章に生き別れで記載されるようになってしまったことだが、やむをえないだろう。理論は、紹介されて...
半導体評価手法の解説本としては、見たことのある書籍の中で最も網羅的で使いやすい。実用一辺倒の構成で、測定したいパラメータのタイプ別に章立てされている。デメリットとしては、ひとつの手法が複数章に生き別れで記載されるようになってしまったことだが、やむをえないだろう。理論は、紹介されている技術の解説に必要な分だけ適宜導入される構成のため、半導体物理の基礎について事前に組織だった知識があったほうがいい。21世紀初頭時点での現状を俯瞰するのにはこの本以外考えられない名書。
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