おはなしMTシステム 予測・推測の可能性を広げる品質工学手法 おはなし科学・技術シリーズ

鴨下隆志(著者), 矢野耕也(著者), 高田圭(著者), 高橋和仁(著者)

• 販売会社／発売会社: 日本規格協会/日本規格協会
• 発売年月日: 2004/06/17
• JAN: 9784542902732

商品レビュー

2013/10/18

対話形式で書かれていて、言い回しが分かり辛い、専門用語を理解していない者にとっては尚更。MTシステムを概略説明しているのは、1章「MTシステムって何？」(13頁〜33頁)だけです。2章「電気通信大学でのMTシステムの始まり」(34頁〜)以降、14章「宇宙に飛んだ衛生の故障」(121頁迄)までは、事例紹介、詳細な記述ではなく、要約程度である。大凡、理解するにも、多くの関連する文献、書籍なりを参照する必要があることでしょう。それ以降、１５章「MTシステムはパラメータ設計である」(121頁〜)、16章「多変量解析とMTシステムの相違」、17章「MTシステムの数理」、18章「何が問題か」、19章「これから何をしたらよいか」、付録「MTシステムの解析で失敗をすくなくするために」 １.データ入力上のミスをなくす 2.欠測値を処理する 3.計測項目数(列数)とサンプル数(行数)の関係を確認する 4.アイテム・カテゴリデータの自由度を考える 5.相関行列(単相関係数)の値に注目する 6.多重共線性を避けるには 7.マルチ法の利用 8.標準偏差σ=0の場合の対応、又、14項目のポイント解説があり、参考になる。